Introducción
El objetivo del programa de Maestría en Ciencias Aplicadas es el formar recursos humanos de alto nivel, en temas científicos de vanguardia con potencial tecnológico y/o aplicado, los cuales puedan impactar favorablemente en el desarrollo tecnológico regional y nacional. Los estudiantes graduados tendrán habilidades de innovación tecnológica y del quehacer científico con las cuales podrán desempeñarse en puestos técnicos en la Industria, en docencia y/o en tareas de investigación en áreas afines. Se busca además establecer bases sólidas en la formación académica de los egresados, con las cuales puedan continuar un doctorado en Instituciones Nacionales o Internacionales.
Metas del plan de estudios. Preparar profesores y expertos técnicos, especializados en áreas de investigación relacionadas con la Física, Química y Matemáticas, con énfasis en la aplicación del conocimiento en el área de interés del estudiante, el cual podrá escoger en gran medida el contenido de su plan de estudios.
Perfil de ingreso. La Maestría está dirigida a profesionistas y egresados de Licenciaturas o Ingenierías en Física, Matemáticas, Química, Nanotecnología, Electrónica, Mecánica, Ciencia de Materiales y carreras afines. Los aspirantes deberán poseer además la voluntad y la capacidad de aplicar sus conocimientos de Ciencias Básicas en proyectos que impacten positivamente en el desarrollo de la Sociedad.
Perfil de egreso. El egresado demostrará conocimientos básicos sólidos y una robusta formación experimental utilizando equipos científicos de vanguardia. Será capaz de participar en proyectos de investigación y/o desarrollo tecnológico en alguna de las áreas del PCA. Contará con iniciativa y creatividad para plantear soluciones a problemas tecnológicos que lo lleven a desarrollarse satisfactoriamente en los sectores educacional, industrial y/o de investigación. Al mismo tiempo, los egresados estarán perfectamente capacitados para continuar con un Doctorado en cualquier Institución, Nacional o Internacional, de Posgrados afines.
